Duyệt theo Chủ đề Fault localization
Hiển thị kết quả 1 đến 1 của 1
Năm xuất bản | Nhan đề | Tác giả |
---|---|---|
2024 | CLUE: A clustering-based test reduction approach for software product lines | Vo, Hieu Dinh; Nguyen, Thu Trang |
Năm xuất bản | Nhan đề | Tác giả |
---|---|---|
2024 | CLUE: A clustering-based test reduction approach for software product lines | Vo, Hieu Dinh; Nguyen, Thu Trang |