Please use this identifier to cite or link to this item: https://dspace.ctu.edu.vn/jspui/handle/123456789/130788
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorKiều, Việt Chi-
dc.contributor.authorLê, Như Trang-
dc.date.accessioned2026-10-13T02:28:47Z-
dc.date.available2026-10-13T02:28:47Z-
dc.date.issued2026-
dc.identifier.issn2615-9910-
dc.identifier.urihttps://dspace.ctu.edu.vn/jspui/handle/123456789/130788-
dc.description.abstractNghiên cứu này tập trung phân tích sự ảnh hưởng của các thông số công nghệ đến chất lượng bề mặt lớp SUS 430 khi dập vuốt vật liệu đa lớp SUS316/AL1050/SUS430. Bằng phương pháp quy hoạch thực nghiệm và phân tích phương sai (ANOVA), một mô hình toán học dự đoán độ nhám bề mặt (Ra430) đã được thiết lập dựa trên ba thông số: lực dập (Qd), bán kính cối (Rc) và chiều sâu dập (Sd). Độ tin cậy của mô hình được xác thực qua phân tích phần dư và kiểm định đa cộng tuyến (VIF). Kết quả định lượng cho thấy chiều sâu dập có ảnh hưởng lớn nhất (58%) đến sự thay đổi hình thái bề mặt. Phân tích vi mô xác định được các rãnh xước có kích thước từ 10-15 µm xuất hiện khi màng dầu bôi trơn bị phá vỡ ở áp suất tiếp xúc cao.vi_VN
dc.language.isovivi_VN
dc.relation.ispartofseriesTạp chí Cơ khí Việt Nam;Số 342 .- Tr.96-100-
dc.subjectDập vuốt sâuvi_VN
dc.subjectVật liệu đa lớpvi_VN
dc.subjectSUS316/AL1050/SUS430vi_VN
dc.subjectĐộ nhám bề mặt Ra430vi_VN
dc.subjectANOVAvi_VN
dc.titleNghiên cứu thực nghiệm ảnh hưởng của các thông số công nghệ đến độ nhám bề mặt SUS 430 tiếp xúc với bán kính cối dập khi dập vuốt vật liệu đa lớp SUS316/AL1050/SUS430 = Experimental study on the influence of technological parameters on the surface roughness of SUS 430 in contact with the die radius during filling of multi-layer SUS316/AL1050/SUS430 materialsvi_VN
dc.typeArticlevi_VN
Appears in Collections:Cơ khí Việt Nam

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
_file_
  Restricted Access
446.71 kBAdobe PDF
Your IP: 216.73.216.94


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.