Vui lòng dùng định danh này để trích dẫn hoặc liên kết đến tài liệu này: https://dspace.ctu.edu.vn/jspui/handle/123456789/38432
Nhan đề: Sinh dữ liệu kiểm thử cho mô hình hệ thống nhúng sử dụng kỹ thuật kiểm thử theo cặp
Tác giả: Đỗ, Thị Bích Ngọc
Từ khoá: Độ phủ CC
Độ phủ DC
Độ phủ MC/DC
Mô hình hệ thống nhúng
Kiểm thử
Kiểm thử theo cặp
Tín hiệu liên tục
Năm xuất bản: 2020
Tùng thư/Số báo cáo: Tạp chí Khoa học Công nghệ Thông tin và Truyền thông;Số 02(CS.01) .- Tr.27-32
Tóm tắt: Hệ thống nhúng đang ngày càng đóng vai trò quan trọng trong đời sống hiện đại. Các hệ thống này đòi hỏi tính an toàn rất cao. Vì vậy, đảm bảo chất lượng cho các hệ thống nhúng này đã và đang thu hút sự quan tâm của cả giới nghiên cứu và công nghiệp. Trong các hệ thống nhúng, quy trình kiểm thử thường yêu cầu độ phủ cao, với nhiều độ đo theo các chuẩn quốc tế, như CC, DC, MC/DC của ISO 26262. Bài báo này đề xuất 1 phương pháp sinh dữ liệu kiểm thử tự động áp dụng kĩ thuật kiểm thử theo cặp nhằm thu được bộ test data với độ phủ cao. Thực nghiệm cho thấy phương pháp đề xuất cho kết quả tốt hơn so với kiểm thử ngẫu nhiên.
Định danh: https://dspace.ctu.edu.vn/jspui/handle/123456789/38432
ISSN: 2525-2224
Bộ sưu tập: Khoa học Công nghệ Thông tin và Truyền thông

Các tập tin trong tài liệu này:
Tập tin Mô tả Kích thước Định dạng  
_file_
  Giới hạn truy cập
1.79 MBAdobe PDF
Your IP: 3.144.117.52


Khi sử dụng các tài liệu trong Thư viện số phải tuân thủ Luật bản quyền.