PHÁT TRIỂN GIẢI THUẬT XỬ LÝ ẢNH ĐỂ PHÂN LOẠI HẠT LÚA BỊ LÉP

Abstract

Năng suất cây trồng được coi là như là một thước đo quan trọng để đánh giá các giống lúa. Số lượng hạt chắc và hạt lép trên bông lúa thể hiện năng suất của cây lúa. Việc đánh giá này là một quá trình tốn nhiều sức và thời gian của con người. Do đó, luận văn này nhằm tự động hóa quy trình phân biệt hạt lúa chắc và lúa lép để giúp đẩy nhanh quá trình đánh giá. Luận văn này đề xuất sử dụng ảnh cận hồng ngoại ở vùng tần số 950 – 960 nm để xác định hạt lúa bị lép. Kết quả thống kê phân bố cường độ sáng của vùng ảnh các hạt lúa cho thấy có sự khác nhau hạt lúa chắc và bị lép. Đối với hạt lúa chắc, biểu đồ tần suất có dạng phân bố lệch sang trái. Vì thế, một chỉ tiêu dựa trên phân bố điểm ảnh xung quanh giá trị trung bình của vùng ảnh hạt lúa được đề xuất để xác định hạt lúa bị lép. Các thí nghiệm được thực hiện với hạt lúa giống hạt lúa tròn Nhật Bản cho thấy giải pháp đạt kết quả với độ chính xác 100% với 3 mẫu thử ngẫu nhiên. Do đó giải pháp phân loại hạt lúa bị lép sử dụng ảnh hồng ngoại có nhiều tiềm năng và là cơ sở để phát triển mô hình phân loại hạt lúa bị lép và bị lửng trong các nghiên cứu tương lai.