Please use this identifier to cite or link to this item: https://dspace.ctu.edu.vn/jspui/handle/123456789/93163
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorNguyễn, Văn Hoan-
dc.contributor.authorPhan, Văn Mạnh-
dc.contributor.authorĐinh, Văn Bằng-
dc.date.accessioned2023-11-01T08:06:38Z-
dc.date.available2023-11-01T08:06:38Z-
dc.date.issued2022-
dc.identifier.issn2615-9910-
dc.identifier.urihttps://dspace.ctu.edu.vn/jspui/handle/123456789/93163-
dc.description.abstractBài báo nghiên cứu ảnh hưởng của tải trọng nhỏ cỡ mN tới hệ số ma sát của cặp vật liệu silie - silic, dùng trong hệ thống MEMS bằng mô hình tịnh tiến dạng chốt trên tấm phẳng. Ở chế độ tại 5 mN, cặp vật liệu SiO₂ - SiO₂, cho hệ số ma sát bằng 0,4251. cao hơn nhiều so với hệ số ma sát ở chế độ tải thông thường 5 N. Trong chế độ tại nhỏ, ảnh hưởng của các lực bề mặt đến đặc tính ma sát là đáng kể và phải được tính đến khi dự đoán ứng xử ma sát của vật liệu. Trong chế độ tải nhỏ, khi tăng độ nhám bề mặt, hệ số ma sát giảm xuống còn 0,2943. Nhám bề mặt làm giảm diện tích tiếp xúc giữa các bề mặt, từ đó làm giảm hệ số ma sát. Sự khác biệt giữa ứng xử ma sát của vật liệu silic giữa tải nhỏ và tải thông thường cũng được so sánh và đánh giá bằng các thí nghiệm ở cùng điều kiện.vi_VN
dc.language.isovivi_VN
dc.relation.ispartofseriesTạp chí Cơ khí Việt Nam;Số 295 .- Tr.184-190-
dc.subjectMa sát trong MEMSvi_VN
dc.subjectTải trọng nhỏvi_VN
dc.subjectHệ số ma sátvi_VN
dc.subjectVật liệu Silicvi_VN
dc.titleNghiên cứu ảnh hưởng của tải trọng nhỏ đến hệ số ma sát của cặp vật liệu silic - silic trong thiết bị MEMS bằng mô hình chốt trên tấm phẳng = Research on the effect of small load on the coefficient of friction of silic-silic material pairs in MEMS by latch models on flat platesvi_VN
dc.typeArticlevi_VN
Appears in Collections:Cơ khí Việt Nam

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
_file_
  Restricted Access
3.36 MBAdobe PDF
Your IP: 18.188.66.250


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.