Please use this identifier to cite or link to this item: https://dspace.ctu.edu.vn/jspui/handle/123456789/11518
Title: Nhận dạng vân tay khiếm khuyết sử dụng ngưỡng toàn cục
Authors: Nguyễn, Lương Nhật
Đào, Duy Liêm
Keywords: PVC2002
FCV2004
Tăng cường ảnh
Vân tay khiếm khuyết
Issue Date: 2018
Series/Report no.: Tạp chí Khoa học Công nghệ Thông tin và Truyền thông;Số 03 .- Tr.3-8
Abstract: Trong những năm gần đây, nhận dạng vân tay là một vấn đề được nghiên cứu rất phổ biến, các kỹ thuật nhận dạng được áp dụng trong cả lĩnh vực dân sự và pháp y. Tuy nhiên, tiến trình nhận dạng bị hạn chế với các mẫu vân tay không đầy đủ hoặc có chất lượng kém. Trong bài báo này, chúng tôi đề xuất một thuật toán tăng cường ảnh để có thể khôi phục đáng kể các ảnh vân tay chất lượng kém. Ngoài ra phương pháp sử dụng ngưỡng toàn cục cũng được áp dụng trong quá trình so khớp mẫu nhằm mục đích giảm tỉ lệ chấp nhận sai và từ chối sai.
URI: http://dspace.ctu.edu.vn/jspui/handle/123456789/11518
ISSN: 2525-2224
Appears in Collections:Khoa học Công nghệ Thông tin và Truyền thông

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
_file_3.69 MBAdobe PDFView/Open
Your IP: 54.227.97.219


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.