Please use this identifier to cite or link to this item: https://dspace.ctu.edu.vn/jspui/handle/123456789/71177
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorVõ, Xuân Ân-
dc.date.accessioned2021-12-22T09:19:29Z-
dc.date.available2021-12-22T09:19:29Z-
dc.date.issued2020-
dc.identifier.issn2525-2267-
dc.identifier.urihttps://dspace.ctu.edu.vn/jspui/handle/123456789/71177-
dc.description.abstractĐầu dò germanium siêu tinh khiết (HPGe), giống như một diode có cấu trúc gồm 3 vùng p. I và N làm việc ở chế độ phân cực nghịch, trong đó vùng I nhạy với các bức xạ ion hóa, đặc biệt là tia gamma và tia X. Trong quá trình hoạt động các nguyên tử lithium của lớp n⁺ (lớp lithium khuếch tán n⁺ vùng P) tiếp tục khuếch tán vào sâu bên trong tinh thể làm cho bề dày của lớp này tăng lên đáng kể, do đó, làm giảm hiệu suất ghi của đầu dò.vi_VN
dc.language.isovivi_VN
dc.relation.ispartofseriesTạp chí Khoa học và Công nghệ Trường Đại học Công nghiệp Thành phố Hồ Chí Minh;Số 43A - Tr.54-61-
dc.subjectHiệu ứng thể tíchvi_VN
dc.subjectHiệu ứng cản xạvi_VN
dc.subjectĐầu dòvi_VN
dc.subjectLớp lithium khuếch tánvi_VN
dc.subjectHiệu suấtvi_VN
dc.subjectMCNP5vi_VN
dc.titleNghiên cứu hiệu ứng thể tích và hiệu ứng cản xạ của bề dày lớp Lithium khuếch tán trong đầu dò HPGe loại pvi_VN
dc.typeArticlevi_VN
Appears in Collections:Khoa học và Công nghệ Trường Đại học Công nghiệp Thành phố Hồ Chí Minh

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
_file_
  Restricted Access
2.09 MBAdobe PDF
Your IP: 3.133.87.156


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.